A "profundidade de penetração do feixe" de elétrons em uma amostra, ou "Depth of beam penetration", refere-se à distância que um feixe de partículas, como elétrons ou fótons, pode penetrar em um material antes de ser significativamente absorvido ou disperso. Esse conceito é fundamental em processos de microscopia eletrônica de varredura (SEM) e análise de materiais por EDS (Espectroscopia por Dispersão de Energia). A figura abaixo representa o grau de penetração do feixe de elétrons em uma amostra de ferro metálico. O operador do microscópio eletrônico de varredura ajustou intencionalmente um parâmetro para reduzir a profundidade de penetração do feixe no material (ilustrado na figura a diminuição da esquerda para direita).  Qual parâmetro deve ser alterado para diminuir a profundidade de penetração?